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本底真空度对磁控溅射法制备AZO薄膜的影响
本底真空度对磁控溅射法制备AZO薄膜的影响
作者:
常会
邹敏
霍红英
马光强
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
磁控溅射
AZO薄膜
本底真空度
摘要:
采用直流磁控溅射方法在平板玻璃基体表面沉积AZO薄膜,研究了本底真空度对薄膜厚度、方块电阻以及在300~1100 nm波长范围内透过率的影响.结果表明:薄膜的方块电阻和透过率随本底真空度的提高而降低,厚度随本底真空度的提高而增加;本底真空度较低时,其变化对薄膜的厚度、方块电阻和透过率的影响较大,随着本底真空度的增加,影响程度逐渐降低.
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篇名
本底真空度对磁控溅射法制备AZO薄膜的影响
来源期刊
表面技术
学科
工学
关键词
磁控溅射
AZO薄膜
本底真空度
年,卷(期)
2013,(1)
所属期刊栏目
研究与探索
研究方向
页码范围
75-77
页数
分类号
TG174.444|O484.4
字数
语种
中文
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AZO薄膜
本底真空度
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
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相关学者/机构
期刊影响力
表面技术
主办单位:
中国兵器工业第五九研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1001-3660
CN:
50-1083/TG
开本:
16开
出版地:
重庆市2331信箱(重庆市九龙破区石桥铺渝州路33号)
邮发代号:
78-31
创刊时间:
1972
语种:
chi
出版文献量(篇)
5547
总下载数(次)
30
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