功率MOSFET管的热疲劳寿命预测

• 作者: 刘培生 卢颖 杨龙龙 黄金鑫
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: MOSFET 仿真 TO-263器件 可靠性 疲劳寿命 失效
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 可 靠 性
• 页码范围: 96-99
• 页数: 4页
• 分类号: TN605
• 字数: 1672字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2015.01.024

摘要

通过ANSYS有限元分析软件对TO-263器件功率MOSFET管进行电-热-机械耦合分析，并对其热疲劳寿命作出预测。首先进行了瞬态热分析，得出了芯片的热通量变化图，在此基础上进行模拟并通过 Coffin-Manson定律预测功率MOSFET管的热疲劳寿命。结果表明，TO-263器件功率MOSFET管的热疲劳失效循环总数为6113。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘培生	南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室	35	147	7.0	9.0
2	卢颖	南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室	13	56	4.0	6.0
3	黄金鑫	南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室	8	63	4.0	7.0
4	杨龙龙	南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室	9	42	3.0	6.0