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功率MOSFET管的热疲劳寿命预测
功率MOSFET管的热疲劳寿命预测
作者:
刘培生
卢颖
杨龙龙
黄金鑫
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
MOSFET
仿真
TO-263器件
可靠性
疲劳寿命
失效
摘要:
通过ANSYS有限元分析软件对TO-263器件功率MOSFET管进行电-热-机械耦合分析,并对其热疲劳寿命作出预测。首先进行了瞬态热分析,得出了芯片的热通量变化图,在此基础上进行模拟并通过 Coffin-Manson定律预测功率MOSFET管的热疲劳寿命。结果表明,TO-263器件功率MOSFET管的热疲劳失效循环总数为6113。
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内容分析
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关键词热度
相关文献总数
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文献信息
篇名
功率MOSFET管的热疲劳寿命预测
来源期刊
电子元件与材料
学科
工学
关键词
MOSFET
仿真
TO-263器件
可靠性
疲劳寿命
失效
年,卷(期)
2015,(1)
所属期刊栏目
可 靠 性
研究方向
页码范围
96-99
页数
4页
分类号
TN605
字数
1672字
语种
中文
DOI
10.14106/j.cnki.1001-2028.2015.01.024
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
刘培生
南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室
35
147
7.0
9.0
2
卢颖
南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室
13
56
4.0
6.0
3
黄金鑫
南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室
8
63
4.0
7.0
4
杨龙龙
南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室
9
42
3.0
6.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
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共引文献
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参考文献
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节点文献
引证文献
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同被引文献
(13)
二级引证文献
(4)
1983(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
1985(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
1989(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
1994(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2000(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
2006(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
2007(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2008(2)
参考文献(1)
二级参考文献(1)
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参考文献(0)
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参考文献(0)
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二级参考文献(4)
2012(2)
参考文献(1)
二级参考文献(1)
2013(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2015(2)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(2)
二级引证文献(0)
2015(2)
引证文献(2)
二级引证文献(0)
2016(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
2018(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
2019(3)
引证文献(0)
二级引证文献(3)
2020(1)
引证文献(0)
二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
MOSFET
仿真
TO-263器件
可靠性
疲劳寿命
失效
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
主办单位:
中国电子学会
中国电子元件行业协会
国营第715厂(成都宏明电子股份有限公司)
出版周期:
月刊
ISSN:
1001-2028
CN:
51-1241/TN
开本:
大16开
出版地:
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
邮发代号:
62-36
创刊时间:
1982
语种:
chi
出版文献量(篇)
5158
总下载数(次)
16
总被引数(次)
31758
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