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SOT型半导体元器件自动编带机的编带装置设计
半导体元器件
编带机
误差分析
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半导体器件寿命计算
半导体器件
寿命计算
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阿伦纽斯模型
基于ARM的半导体分立器件测试主机系统总线
ARM
S3C44BO
测试主机系统总线
半导体分立器件测试系统
塑封半导体器件的可靠性保证措施
塑封半导体器件
可靠性
温度适应性评估
二次筛选
破坏性物理分析
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 SOT23半导体器件后道封测设备
来源期刊 电子工业专用设备 学科
关键词
年,卷(期) 2015,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 60-61
页数 2页 分类号
字数 857字 语种 中文
DOI
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相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
出版文献量(篇)
3731
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31
总被引数(次)
10002
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