SRAM型FPGA的SEU容错技术研究

• 作者: 许仕龙 郝亚男 高欣
• 来源期刊: 中国集成电路
• 学科: 工学
• 关键词: SRAM型FPGA 单粒子翻转 可靠性
• 年，卷（期）: 2015,（10）
• 所属期刊栏目: 设计
• 页码范围: 31-36
• 页数: 6页
• 分类号: TN432
• 字数: 4709字
• 语种: 中文

摘要

在空间辐射环境下,SRAM型FPGA比ASIC器件更容易产生单粒子翻转(SEU)效应,造成器件逻辑错误和系统故障,因此对航天应用中的SRAM型FPGA必须采取相应的抗单粒子翻转设计措施,提高FPGA空间应用的可靠性.分析了SEU产生原因及国内外针对SEU效应提出的FPGA加固设计方法,重点分析介绍了三模冗余技术、刷新回读技术和局部动态可重构技术等加固技术,总结比较了各种技术的优缺点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许仕龙	中国电子科技集团公司第五十四研究所	8	26	3.0	5.0
2	郝亚男	中国电子科技集团公司第五十四研究所	5	18	2.0	4.0