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摘要:
利用MOCVD技术,分别在图形化蓝宝石衬底(PSS)、沉积有AlN薄膜的图形化蓝宝石衬底(PSS-A)和经过选择性刻蚀掉部分AlN的AlN薄膜的图形化蓝宝石衬底(PSS-E)上外延生长GaN.在高倍金相显微镜下面观察了生长的表面形貌,利用AFM测量了外延片表面的粗糙度,对比分析了三种样品(002)面和(102)面XRD的FWHM,然后对三个样品切片,SEM观察了三种样品的剖面图,最终将三种样品衬底的外延片制备成相同产品,对比分析了样品的LED芯片的光电参数.
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文献信息
篇名 图形化蓝宝石衬底上利用AlN缓冲层生长GaN的研究
来源期刊 光学与光电技术 学科 工学
关键词 氮化镓 衬底 缓冲层 氮化铝 发光二极管
年,卷(期) 2015,(4) 所属期刊栏目 材料与器件
研究方向 页码范围 91-95
页数 分类号 TN304.2+3
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李前进 1 0 0.0 0.0
2 葛久志 3 5 1.0 2.0
3 侯想 1 0 0.0 0.0
4 项艺 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
氮化镓
衬底
缓冲层
氮化铝
发光二极管
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光学与光电技术
双月刊
1672-3392
42-1696/O3
大16开
武汉市阳光大道717号
38-335
2003
chi
出版文献量(篇)
2142
总下载数(次)
3
总被引数(次)
9791
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