功率MOS单粒子加固设计

• 作者: 刘文辉
• 来源期刊: 决策与信息（下旬刊）
• 关键词: 功率MOS器件 单粒子
• 年，卷（期）: 2016,（5）
• 所属期刊栏目: 科学论坛
• 页码范围: 279-280
• 页数: 2页
• 字数: 1414字
• 语种: 中文

摘要

高能粒子进入功率MOS器件后，会引起SEE(Single Event Effect)。本文对功率MOS器件的SEE效应的机理进行了分析，研究了SEE失效敏感性与器件结构的关系；最后采用LET=99 MeV/(mg/cm2)的Bi+进行了试验，试验结果表明这种加固技术可以有效提高器件的抗单粒子能力。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘文辉		9	9	2.0	2.0