集成电路测试系统时间参数测试能力比对

• 作者: 于利红 张继平 王酣 赵昭
• 来源期刊: 计量技术
• 关键词: 集成电路测试系统 时间参数 被测件 比对实施方案
• 年，卷（期）: 2017,（7）
• 所属期刊栏目: 测量与设备
• 页码范围: 24-27
• 页数: 4页
• 字数: 3601字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0771.2017.07.07

摘要

本文结合集成电路测试系统时间参数测试能力比对,对比对过程中所采用的标准和测试方法、被测件的制备及其稳定性考核、比对实施方案的制定、比对结果的评价方法等关键内容进行了详细描述,为集成电路测试系统时间参数的量值溯源提供了一种有效的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张继平		4	6	2.0	2.0
2	于利红		1	1	1.0	1.0
3	赵昭		1	1	1.0	1.0
4	王酣		1	1	1.0	1.0