氦质谱压力真空检漏法在高压容器检测中的优化分析

• 作者: 丁栋 孙冬花 张瑞芳 王鸿雁 葛瑞宏 赵澜 陈联
• 来源期刊: 真空
• 学科: 工学
• 关键词: 泄漏检测 氦质谱分析 压力真空法 高压容器
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 页码范围: 15-18
• 页数: 4页
• 分类号: TB774
• 字数: 3865字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13385/j.cnki.vacuum.2017.05.04

摘要

本文介绍了氦质谱压力真空检漏方法在高压容器泄漏检测中的优化分析.通过给氦质谱压力真空检漏法的集气室充气工装增加辅助抽气室,避免高压条件下充气工装泄漏造成的检漏系统本底信号过高影响,提高了氦质谱压力真空检漏方法在高压容器检测中的灵敏度和检测数据的准确性,拓展了氦质谱压力真空检漏方法的适用范围.