基于加速寿命试验的SLD可靠性预计模型研究

• 作者: 于迪 任艳 周军连 戴泽林 杨云
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 光学器件 超辐射发光二极管 可靠性 预计模型 加速寿命试验 性能退化
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 79-84
• 页数: 6页
• 分类号: TN386
• 字数: 3917字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2018.02.015

摘要

超辐射发光二极管(SLD)已广泛应用于航空、航天等多个领域,但其预计模型的缺失使得SLD的可靠性分析工作缺乏有效指导.本文基于SLD主要失效模式、失效机理以及典型诱发应力,构建SLD可靠性预计模型,开展加速寿命试验,利用性能退化可靠性评估技术、图估计、最优线性无偏估计等方法对试验数据进行分析处理,确定管芯预计模型参数,应用国内外已有耦合、热阻及制冷器可靠性预计技术,确定管芯耦合及组件预计模型系数的表征,从而完成SLD可靠性预计模型的建立,为SLD工程应用过程中的可靠性分析工作提供技术参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于迪		16	12	2.0	3.0
2	任艳		15	20	3.0	3.0
3	周军连		11	47	3.0	6.0
4	杨云		6	2	1.0	1.0
5	戴泽林		2	1	1.0	1.0