防呆技术在集成电路多工位测试中的应用

• 作者: 张易勒 李习周 李琦 郭昌宏
• 来源期刊: 电子工业专用设备
• 学科: 工学
• 关键词: 测试 多工位 防呆技术
• 年，卷（期）: 2018,（3）
• 所属期刊栏目: 测试与测量
• 页码范围: 59-63
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 1302字
• 语种: 中文

摘要

在集成电路生产测试中,往往会采取多工位测试方法,该方法会显著提高测试的效率,提高产出量;但是,多工位测试方法存在一定的生产隐患,有时会带来严重的生产事故,导致大量的产品返工.为解决这一问题,在多工位测试中,分别从软件和硬件上提出了防呆技术,降低了采用多工位测试时多个测试工位连接的错误,提高了生产效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李习周		22	27	3.0	4.0
2	张易勒		5	10	2.0	2.0
3	郭昌宏		10	7	2.0	2.0
4	李琦		6	2	1.0	1.0