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摘要:
基于杂质漂移机理,分析了忆阻器的导电过程,为了更加准确地模拟忆阻器内部离子的实际迁移情况,提出了一种改进的窗函数模型.基于MATLAB软件工具研究了忆阻器的伏安特性,进而分别研究了传统窗函数和改进窗函数模型下的滞回特性,通过仿真对比分析结果表明:改进的忆阻器模型不仅具有可调性和高灵活性,还解决了"边界锁死"问题;忆阻器的滞回曲线呈现出明显的优越性;在频率允许范围内,忆阻器的伏安特性会随着频率的增大而缩减,当频率趋于无穷大时,呈现出一条直线,则表现出普通电阻元件特性.
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文献信息
篇名 改进窗函数下的忆阻器特性分析和研究
来源期刊 电子元件与材料 学科 工学
关键词 忆阻器 伏安特性 窗函数 可调性 边界锁死 滞回曲线
年,卷(期) 2018,(11) 所属期刊栏目 研究与试制
研究方向 页码范围 78-84
页数 7页 分类号 TN60
字数 4605字 语种 中文
DOI 10.14106/j.cnki.1001-2028.2018.11.014
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 孙岩洲 河南理工大学电气工程与自动化学院 52 306 9.0 16.0
2 赵铁英 河南理工大学电气工程与自动化学院 10 10 2.0 2.0
3 刘晓倩 河南理工大学电气工程与自动化学院 1 1 1.0 1.0
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节点文献
忆阻器
伏安特性
窗函数
可调性
边界锁死
滞回曲线
研究起点
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电子元件与材料
月刊
1001-2028
51-1241/TN
大16开
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
62-36
1982
chi
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