一种用于NAND闪存的奇偶位线块编程补偿算法

• 作者: 曹华敏 王颀 门顶顶 霍宗亮
• 来源期刊: 微电子学
• 学科: 工学
• 关键词: NAND闪存 数据保持 编程干扰 阈值漂移补偿 可靠性
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 模型与算法
• 页码范围: 500-503
• 页数: 4页
• 分类号: TN406
• 语种: 中文
• DOI: 10.13911/j.cnki.1004-3365.170480

摘要

为改善数据保持干扰和编程干扰对NAND闪存可靠性的影响,提出了一种新的奇偶位线块编程补偿算法.该算法利用编程干扰效应来补偿由数据保持引起的阈值漂移,修复NAND闪存因数据保持产生的误码,提高了NAND闪存的可靠性.将该算法应用于编程擦除次数为3k次的1x-nm MLC NAND闪存.实验结果表明,在数据保持时间为1年的条件下,与传统奇偶交叉编程算法相比,采用该补偿算法的NAND闪存的误码降低了93％;与读串扰恢复算法相比,采用该补偿算法的NAND闪存的误码下降了38％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王颀		4	0	0.0	0.0
5	霍宗亮		10	8	2.0	2.0
9	门顶顶		1	0	0.0	0.0
13	曹华敏		1	0	0.0	0.0