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摘要:
研究了互连线延时对单粒子瞬态脉冲效应的影响.研究发现,随着互连线长度的增加,瞬态脉冲首先被展宽,在一定距离后,脉冲宽度衰减为零.基于此研究结果,提出了脉冲宽度随互连线长度变化的数学解析模型.在SMIC 130 nm、90 nm CMOS工艺下,采用Spice软件对应用该数学解析模型的多种器件进行验证.结果表明,该数学解析模型的计算值与仿真值误差最大为6.09%,最小为0.37%.该模型提高了单粒子瞬态脉冲宽度的评估准确度,可应用于单粒子瞬态脉冲效应的硬件加速模拟.
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文献信息
篇名 基于互连线延时的SET脉冲宽度评估模型
来源期刊 微电子学 学科 工学
关键词 单粒子瞬态 互连线延时 脉冲宽度评估
年,卷(期) 2018,(5) 所属期刊栏目 模型与算法
研究方向 页码范围 677-681
页数 5页 分类号 TN406
字数 语种 中文
DOI 10.13911/j.cnki.1004-3365.170500
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 周婉婷 电子科技大学电子科学技术研究院 13 27 3.0 4.0
2 张凤 电子科技大学电子科学技术研究院 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
单粒子瞬态
互连线延时
脉冲宽度评估
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学
双月刊
1004-3365
50-1090/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号24所
1971
chi
出版文献量(篇)
3955
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总被引数(次)
21140
论文1v1指导