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摘要:
制备了晶格匹配In0.17Al0.83N/GaN异质结圆形平面结构肖特基二极管,通过测试和拟合器件的电容-频率曲线,研究了电容的频率散射机制.结果表明:在频率高于200 kHz后,积累区电容随频率出现增加现象,而传统的电容模型无法解释该现象.通过考虑漏电流、界面态和串联电阻等影响对传统模型进行修正,修正后的电容频率散射模型与实验结果很好地符合,表明晶格匹配In0.17Al0.s3N/GaN异质结电容随频率散射是漏电流、界面态和串联电阻共同作用的结果.
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文献信息
篇名 晶格匹配In0.17Al0.83N/GaN异质结电容散射机制
来源期刊 物理学报 学科
关键词 晶格匹配 In0.17Al0.83N/GaN异质结 电容频率散射
年,卷(期) 2018,(24) 所属期刊栏目 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
研究方向 页码范围 206-210
页数 5页 分类号
字数 1152字 语种 中文
DOI 10.7498/aps.67.20181050
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李文佳 淮阴师范学院物联网工程系 10 1 1.0 1.0
2 任舰 淮阴师范学院物联网工程系 12 1 1.0 1.0
3 苏丽娜 淮阴师范学院物联网工程系 10 1 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
晶格匹配
In0.17Al0.83N/GaN异质结
电容频率散射
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物理学报
半月刊
1000-3290
11-1958/O4
大16开
北京603信箱
2-425
1933
chi
出版文献量(篇)
23474
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35
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174683
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