电子与封装期刊
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543

电子与封装

Electronics and Packaging

影响因子 0.2463
本刊是目前国内唯一以电子封装为主的技术刊物。
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
出版周期:
月刊
邮编:
214035
地址:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
出版文献量(篇)
3006
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9543
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  • 作者: 周金文 邹嘉佳 高宏
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2016年4期
    页码:  1-3,17
    摘要: 制备了一种由环氧树脂基体、咪唑类固化剂、微米级银粉和活性稀释剂体系构成的导电银胶.该导电银胶的常温体积电阻率为3.7×10-4 Ω·cm,搁置寿命大于48 h,粘度适中,耐热散热性能良好.将...
  • 作者: 季斌 潘书山 陈颖
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2016年4期
    页码:  4-8,12
    摘要: 针对系统级封装(SiP)结构中的互连可靠性检测,提出了叠层封装中焊点失效分析的原则和程序.对采用3D X-ray和金相技术的焊点缺陷分析方法进行了对比,验证了3D X-ray分析复杂SiP封...
  • 作者: 杜元勋
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2016年4期
    页码:  9-12
    摘要: 现在的集成电路测试系统虽然具备较高的技术指标,但仍然有一些数字、模拟和数模混合电路的参数指标超出其测试能力范围.在新品验证阶段要实现功能与参数的全覆盖测试,难度大而且成本高.通过测试系统与仪...
  • 作者: 宋国栋 蔡洁明 陈嘉鹏 黄旭东
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2016年4期
    页码:  13-17
    摘要: 对国内宇航元器件应用现状进行调查研究,阐述了宇航元器件进行在轨测试的必要性.对宇航元器件在轨测试的方法进行探讨,列举了目前常用的在轨测试方法.重点对宇航元器件进行在轨测试参数选择,对实施方案...
  • 作者: 李锴 王征宇 赵桦
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2016年4期
    页码:  18-20,33
    摘要: 随着信息科学和产业的发展,集成电路为人们广泛应用.在今天的超大规模集成电路特别是在系统芯片SOC设计中,将大量存储器嵌入在片中的设计方法已经非常普遍.存储器的测试是集成电路测试一个十分重要的...
  • 作者: 丛红艳 张艳飞 胡凯 闫华
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2016年4期
    页码:  21-23,28
    摘要: 基于March C+算法,设计了一种基于Scan chain的Block RAM为测试对象的串/并行BIST电路.在电路内部自身生成测试向量,不需要外部施加激励,并依靠自身决定得到测试结果是...
  • 作者: 刘俐
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2016年4期
    页码:  24-28
    摘要: 为满足集成电路中高电源抑制比/低温度系数的要求,设计了一款没有运放的精简的带隙电压电路.相比传统有运放结构,电路芯片面积更小且具有更低的电流损耗.并在0.5μm CMOS工艺下进行了仿真,仿...
  • 作者: 杨培凯 石雄
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2016年4期
    页码:  29-33
    摘要: 针对传统有线充电方式的弊端,开发一种由无线充电发射模块、无线充电接收模块、电源管理模块组成的无线充电管理方案.发射模块通过发射线圈发射能量,接收模块产生电磁感应以后将接收到的电能输出.当接收...
  • 作者: 张晖 支敏
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2016年4期
    页码:  34-39
    摘要: 根据和差单脉冲雷达接收机原理,设计了一款基于和差波束比幅比相的S波段跟踪接收机.该接收机主要由和波束接收支路、方位差波束接收支路和俯仰差波束接收支路组成,每个接收支路分别完成对信号的放大、滤...
  • 作者: 吴建伟 寇春梅 洪根深 谢儒彬
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2016年4期
    页码:  40-44
    摘要: 对国内标准商用0.18μm工艺MOSFET和电路进行总剂量效应研究.其STI隔离区域二氧化硅在总剂量达到50k rad(Si)时,端口3.3 V NMOS晶体管漏电达到了10-9A级,达到1...
  • 作者: 王海东
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2016年4期
    页码:  45-47
    摘要: 对溅射原理进行了详细的分析,对溅射设备的结构组成进行了概括性的说明.研究了溅射腔室的传统工艺处理流程,并提出了新的工艺处理流程.实验表明,新的工艺流程更加省时省力,效果上也更好,应用于实际中...

电子与封装基本信息

刊名 电子与封装 主编 王虹麟
曾用名
主办单位 中国电子科技集团公司第五十八研究所  主管单位 中国电子科技集团公司
出版周期 月刊 语种
chi
ISSN 1681-1070 CN 32-1709/TN
邮编 214035 电子邮箱 ep.cetc58@163.com
电话 0510-85860386 网址 www.ep.org.cn
地址 江苏无锡市惠河路5号(208信箱)

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