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摘要:
利用深能级瞬态谱(DLTS)研究了常规分子束外延和原子氢辅助分子束外延生长的掺杂Si和Be的GaAs同质结构样品中缺陷的电学特性.发现原子氢辅助分子束外延生长的样品中缺陷的浓度与常规分子束外延生长的样品相比有明显的降低,这可解释为生长过程中原子氢对缺陷的原位中和与钝化作用.
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文献信息
篇名 原子氢辅助分子束外延生长对GaAs材料性能的改善
来源期刊 红外与毫米波学报 学科 物理学
关键词 原子氢辅助分子束外延生长 深能级瞬态谱(DLTS) 深能级缺陷
年,卷(期) 2000,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 191-193
页数 3页 分类号 O4
字数 2447字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1001-9014.2000.03.008
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作者信息
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1 封松林 44 296 8.0 16.0
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研究主题发展历程
节点文献
原子氢辅助分子束外延生长
深能级瞬态谱(DLTS)
深能级缺陷
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
红外与毫米波学报
双月刊
1001-9014
31-1577/TN
大16开
上海市玉田路500号
4-335
1982
chi
出版文献量(篇)
2620
总下载数(次)
3
总被引数(次)
28003
论文1v1指导