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摘要:
用电子束蒸发方法在硅衬低上制备ZnO薄膜,测量了ZnO薄膜的XRD谱,表明六角晶体结构的薄膜具有强C轴择优取向(002),并且,测量了ZnO薄膜样品的二次离子质谱(SIMS),表明其化学剂量比为1∶1.在光致发光实验中,用He-Cdi激光器的325nm(50mω)波长激发,观察到了385nm的紫外光发射.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 电子束蒸发方法制备ZnO薄膜的结构和光学特性研究
来源期刊 哈尔滨商业大学学报(自然科学版) 学科 物理学
关键词 电子束蒸发 光致发光 薄膜 X射线衍射(XRD)
年,卷(期) 2001,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 31-32
页数 2页 分类号 O484.4+1
字数 1135字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-0946.2001.03.010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 马丛笑 哈尔滨师范大学物理系 6 16 2.0 3.0
2 宁潜艳 哈尔滨师范大学物理系 12 11 1.0 3.0
3 郑才平 哈尔滨师范大学物理系 8 17 3.0 4.0
传播情况
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2010(1)
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研究主题发展历程
节点文献
电子束蒸发
光致发光
薄膜
X射线衍射(XRD)
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
哈尔滨商业大学学报(自然科学版)
双月刊
1672-0946
23-1497/N
大16开
哈尔滨市道里区通达街138号
1980
chi
出版文献量(篇)
3911
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16
总被引数(次)
20147
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