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双嵌入式低k介电层/铜工艺技术
双嵌入式低k介电层/铜工艺技术
作者:
利定东
濮胜
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
双嵌入
内导线
RC延迟
低k介电层
铜布线工艺制程
摘要:
介绍了铜/低介电常数介电层的双嵌入式工艺,该工艺已大规模应用于动态记忆存储器(D R A M)和逻辑电路器件中.
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文献信息
篇名
双嵌入式低k介电层/铜工艺技术
来源期刊
半导体技术
学科
工学
关键词
双嵌入
内导线
RC延迟
低k介电层
铜布线工艺制程
年,卷(期)
2003,(3)
所属期刊栏目
专题报道
研究方向
页码范围
22-24,21
页数
4页
分类号
TN305
字数
2363字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1003-353X.2003.03.011
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
利定东
5
30
1.0
5.0
2
濮胜
1
0
0.0
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传播情况
被引次数趋势
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引文网络
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(0)
二级引证文献
(0)
2003(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
双嵌入
内导线
RC延迟
低k介电层
铜布线工艺制程
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
主办单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1003-353X
CN:
13-1109/TN
开本:
大16开
出版地:
石家庄179信箱46分箱
邮发代号:
18-65
创刊时间:
1976
语种:
chi
出版文献量(篇)
5044
总下载数(次)
38
总被引数(次)
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