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摘要:
介绍了铜/低介电常数介电层的双嵌入式工艺,该工艺已大规模应用于动态记忆存储器(D R A M)和逻辑电路器件中.
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文献信息
篇名 双嵌入式低k介电层/铜工艺技术
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 双嵌入 内导线 RC延迟 低k介电层 铜布线工艺制程
年,卷(期) 2003,(3) 所属期刊栏目 专题报道
研究方向 页码范围 22-24,21
页数 4页 分类号 TN305
字数 2363字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-353X.2003.03.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 利定东 5 30 1.0 5.0
2 濮胜 1 0 0.0 0.0
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2003(0)
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研究主题发展历程
节点文献
双嵌入
内导线
RC延迟
低k介电层
铜布线工艺制程
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
石家庄179信箱46分箱
18-65
1976
chi
出版文献量(篇)
5044
总下载数(次)
38
总被引数(次)
24788
论文1v1指导