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摘要:
随着微波混合集成电路向着高性能、高可靠、小型化、高均一性及低成本方向的发展,对芯片焊接工艺提出了越来越高的要求.本文对几种共晶烧结方法进行了实验比较,讨论了各种方法的适用范围,影响质量的因素并对实验结果进行了简单的讨论.
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文献信息
篇名 共晶烧结技术的实验研究
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 共晶 烧结 工艺 微波混合集成电路
年,卷(期) 2005,(9) 所属期刊栏目 支撑技术
研究方向 页码范围 53-56,60
页数 5页 分类号 TN305
字数 3805字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-353X.2005.09.017
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 姜永娜 4 2 1.0 1.0
2 曹曦明 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
共晶
烧结
工艺
微波混合集成电路
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
石家庄179信箱46分箱
18-65
1976
chi
出版文献量(篇)
5044
总下载数(次)
38
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