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摘要:
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基于SOC测试的IEEE P1500
SOC
可测性设计
IEEE P1500
基于IEEE Std 1500标准的SOC可测性设计研究
SOC
IEEE Std 1500
IP核
边界扫描
测试
系统芯片测试策略--IEEE P1500
SOC
IEEE P1500
嵌入式核
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文献信息
篇名 基于IEEE P1500的SOC可测性设计技术
来源期刊 电子技术 学科 工学
关键词
年,卷(期) 2005,(8) 所属期刊栏目 应用设计
研究方向 页码范围 62-66
页数 5页 分类号 TP3
字数 2973字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-0755.2005.08.016
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨松华 上海大学微电子研究与发展中心 15 46 4.0 6.0
2 张琨 上海大学微电子研究与发展中心 9 12 2.0 3.0
传播情况
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子技术
月刊
1000-0755
31-1323/TN
大16开
上海市长宁区泉口路274号
4-141
1963
chi
出版文献量(篇)
5480
总下载数(次)
19
总被引数(次)
22245
论文1v1指导