原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
对MOS结构器件,要分离由辐射效应引起的界面态电荷与氧化层陷阱电荷的方法有很多种,如中电带压法、电荷泵法和双晶体管法就是目前比较常用、有效的方法,分析了这些方法的优点和局限性.
推荐文章
MOS器件中的边界陷阱
边界陷阱
缺陷结构
DTBT
PHEMT器件界面态分析方法综述
高电子迁移率场效应晶体管
砷化镓器件
界面态
DCIV 技术提取 SOI器件前栅界面与背界面态密度
DCIV方法
SOI NMOS器件
前栅界面与背界面
界面态面密度
等效能级
界面陷阱对硅纳米晶粒基MOS电容的电荷存储特性的影响
硅纳米晶粒
界面陷阱
直接隧穿
C-V测量
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 MOS器件界面态与陷阱电荷分离方法研究
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 界面态 氧化层陷阱电荷 电荷分离方法 辐照效应
年,卷(期) 2006,(4) 所属期刊栏目 可靠性物理与失效分析技术
研究方向 页码范围 26-29
页数 4页 分类号 TN386.1
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2006.04.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 罗宏伟 16 122 6.0 10.0
2 师谦 11 110 7.0 10.0
3 李斌 华南理工大学微电子研究所 128 542 12.0 17.0
4 林丽 5 28 2.0 5.0
6 何玉娟 3 41 3.0 3.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (25)
共引文献  (7)
参考文献  (9)
节点文献
引证文献  (14)
同被引文献  (3)
二级引证文献  (13)
1967(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1975(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1976(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1977(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1982(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
1984(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
1985(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1986(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1987(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1988(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
1989(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1990(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1991(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1992(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
1993(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
1994(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1997(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2000(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2001(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2004(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2005(4)
  • 参考文献(4)
  • 二级参考文献(0)
2006(2)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(0)
2006(2)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2008(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2009(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2010(4)
  • 引证文献(3)
  • 二级引证文献(1)
2011(3)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(3)
2012(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2013(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
2014(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2015(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2016(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
2017(4)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(2)
2018(4)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(3)
2019(5)
  • 引证文献(3)
  • 二级引证文献(2)
研究主题发展历程
节点文献
界面态
氧化层陷阱电荷
电荷分离方法
辐照效应
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
相关基金
国家自然科学基金
英文译名:the National Natural Science Foundation of China
官方网址:http://www.nsfc.gov.cn/
项目类型:青年科学基金项目(面上项目)
学科类型:数理科学
  • 期刊分类
  • 期刊(年)
  • 期刊(期)
  • 期刊推荐
论文1v1指导