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多芯片组件(MCM)可靠性技术探讨
多芯片组件
可靠性
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多芯片组件
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结温
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多芯片组件
交调噪声
同时切换噪声
多芯片组件(MCM)的可测性设计
多芯片组件
JTAG
可测性设计
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 多芯片组件(MCM)技术综述
来源期刊 半导体行业 学科 工学
关键词 技术综述 多芯片组件 微电子封装技术 芯片尺寸封装 电路组装 封装尺寸 组装密度 裸芯片 高密度 CSP
年,卷(期) 2006,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 33-35
页数 3页 分类号 TN42
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 鲜飞 350 1111 15.0 20.0
传播情况
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引文网络
引文网络
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参考文献  (0)
节点文献
引证文献  (0)
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二级引证文献  (0)
2006(0)
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研究主题发展历程
节点文献
技术综述
多芯片组件
微电子封装技术
芯片尺寸封装
电路组装
封装尺寸
组装密度
裸芯片
高密度
CSP
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体行业
双月刊
无锡市梁溪路14号
出版文献量(篇)
1222
总下载数(次)
6
总被引数(次)
0
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