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摘要:
本文利用脉冲激光沉积法,系统研究了衬底温度和氧压对硅基LiTaO3薄膜质量及c轴取向性的影响,结果表明衬底温度和氧压对LiTaO3薄膜的c轴取向性及结晶质量有很大的影响,在650℃、30Pa时可以生长出高c轴取向LiTaO3薄膜.采用扫描电镜和原子力显微镜对最佳条件下制得薄膜的表面形貌进行了分析,发现薄膜表面光滑,晶粒尺寸均匀致密,薄膜表面粗糙度约为3.6nm.
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关键词云
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文献信息
篇名 脉冲激光沉积法在SiO2/Si衬底上生长c轴取向LiTaO3薄膜
来源期刊 人工晶体学报 学科 物理学
关键词 LiTaO3薄膜 SiO2/Si衬底 c轴取向 脉冲激光沉积
年,卷(期) 2007,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 134-137,145
页数 5页 分类号 O484
字数 2210字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-985X.2007.01.030
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 叶志镇 浙江大学硅材料国家重点实验室 155 1638 21.0 35.0
2 赵炳辉 浙江大学硅材料国家重点实验室 74 719 14.0 24.0
3 王新昌 郑州大学物理工程学院材料物理教育部重点实验室 30 79 4.0 7.0
4 曹亮亮 浙江大学硅材料国家重点实验室 7 21 3.0 4.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
LiTaO3薄膜
SiO2/Si衬底
c轴取向
脉冲激光沉积
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
人工晶体学报
月刊
1000-985X
11-2637/O7
16开
北京朝阳区红松园1号中材人工晶体研究院,北京733信箱
1972
chi
出版文献量(篇)
7423
总下载数(次)
16
总被引数(次)
38029
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