全耗尽异质栅单Halo SOI MOSFET二维模型

• 作者: 吴建民 李尊朝 蒋耀林
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: MOSFET 异质栅 解析模型 阈值电压
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 212-215
• 页数: 4页
• 分类号: TN386
• 字数: 2563字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2007.02.005

摘要

为了抑制深亚微米SOI MOSFET的短沟道效应,并提高电流驱动能力,提出了异质栅单Halo SOI MOSFET器件结构,其栅极由具有不同功函数的两种材料拼接而成,并在沟道源端一侧引入Halo技术.采用分区的抛物线电势近似法和通用边界条件求解二维Poisson方程,为新结构器件建立了全耗尽条件下的表面势及阈值电压二维解析模型.对新结构器件与常规SOI MOSFET性能进行了对比研究.结果表明,新结构器件能有效抑制阈值电压漂移、热载流子效应和漏致势垒降低效应,并显著提高载流子通过沟道的输运速度.解析模型与器件数值模拟软件MEDICI所得结果高度吻合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李尊朝	西安交通大学电子与信息工程学院	31	275	8.0	16.0
2	蒋耀林	西安交通大学电子与信息工程学院	33	95	4.0	8.0
3	吴建民	西安交通大学电子与信息工程学院	2	10	1.0	2.0