一种基于时-频域计算的ADC动态参数测试方法

• 作者: 华云 杨中海 黄庆
• 来源期刊: 微电子学
• 学科: 工学
• 关键词: A/D转换器 动态参数测试 频谱泄漏 栅栏效应 采样后相干
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 782-786
• 页数: 5页
• 分类号: TN79+2
• 字数: 2971字
• 语种: 中文

摘要

针对传统加窗、相干采样等方法准确度不够高或条件苛刻难以实现的缺点,提出了采样后相干方法测试ADC的动态参数.该方法能很好地抑制频谱泄漏的影响;另外,对频域内计算信号功率易受栅栏效应影响的问题,提出了采用信号重构的方法恢复测试信号,然后在时域和频域分别计算信号功率和噪声功率的时-频域计算方法.给出的例子证明了这种方法优于传统方法,具有很高的准确度,而且易于实现.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨中海	电子科技大学物理电子学院	97	814	15.0	24.0
2	华云		7	28	3.0	5.0
3	黄庆		1	5	1.0	1.0