管状陶瓷金属封接残余应力计算比较

• 作者: 石磊 金大志
• 来源期刊: 真空
• 学科: 工学
• 关键词: 奇异性 陶瓷/金属封接 残余应力 薄壳理论
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 新材料新技术
• 页码范围: 62-65
• 页数: 4页
• 分类号: TG404
• 字数: 2883字
• 语种: 中文

摘要

陶瓷/金属封接过程中由于温差容易产生残余应力,将影响到封接强度和产品的可靠性.应用薄壳理论公式和ANSYS有限元分析软件对典型筒状陶瓷/金属对封结构的残余应力分布进行了计算比较,指出了薄壁理论公式的适用范同,同时讨论了异材界面端存在应力奇异性的问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	金大志	中国工程物理研究院电子工程研究所	43	130	6.0	8.0
2	石磊	中国工程物理研究院电子工程研究所	16	57	4.0	6.0