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摘要:
采用浸溃技术在硅纳米孔柱阵列(Si-NPA)衬底上沉积了金(Au),得到了Au的网络结构Au/Si-NPA.测试分析表明,将Au/Si-NPA进行600℃氧退火60 min,退火前后的Au晶粒度分别为26.0 nm和75.5 nm.无论是在氧气还是在氮气气氛下对Au/Si-NPA进行600℃退火,Au都不会渗透到Si-NPA衬底内,而且也不会与硅反应形成化合物.说明Au可作为良好的互连材料应用到超大规模集成电路中.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 沉积在硅纳米孔柱阵列上的金网络
来源期刊 电子元件与材料 学科 物理学
关键词 Au/硅纳米孔柱阵列 Au互连 浸渍技术
年,卷(期) 2010,(9) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 48-50
页数 分类号 O484
字数 2045字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-2028.2010.09.014
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 富笑男 河南工业大学理学院 21 35 4.0 5.0
2 符建华 河南工业大学理学院 17 32 3.0 5.0
3 欧海峰 河南工业大学理学院 13 27 4.0 5.0
4 刘琨 河南工业大学理学院 23 36 4.0 4.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
Au/硅纳米孔柱阵列
Au互连
浸渍技术
研究起点
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引文网络交叉学科
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电子元件与材料
月刊
1001-2028
51-1241/TN
大16开
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
62-36
1982
chi
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