动态应力下功率n-LDMOS器件热载流子退化恢复效应

• 作者: 刘斯扬 孙伟锋 张春伟 徐申 王永平
• 来源期刊: 东南大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 热载流子 恢复效应 退陷阱效应 电荷泵
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 页码范围: 691-694
• 页数: 4页
• 分类号: TN386
• 字数: 3472字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0505.2013.04.004

摘要

针对功率n-LDMOS器件在动态应力条件下的热载流子退化恢复效应进行了实验和理论研究.电荷泵实验测试和器件专用计算机辅助软件的仿真分析结果表明,在施加不同的动态应力条件下,功率n-LDMOS器件存在2种主要的热载流子退化机理,即鸟嘴区域的热空穴注入和沟道区域的界面态产生,均有明显的退化恢复效应.对功率n-LDMOS器件施加2个连续3600s的不同应力,观察每个阶段结束时刻的CP电流曲线,发现该器件在应力变换期间确实发生了热空穴的退陷阱效应.然后,对功率n-LDMOS器件施加3个连续3600s的不同应力,观察每个阶段结束时刻的CP电流曲线,发现器件处于关断阶段时,已产生的界面态存在一定程度的复合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙伟锋	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	105	634	13.0	19.0
2	徐申	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	21	156	8.0	12.0
3	刘斯扬	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	21	54	4.0	5.0
4	张春伟	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	8	18	3.0	4.0
5	王永平	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	3	8	2.0	2.0