堆叠式内存制造中炉管非选择性半球状多晶硅片数效应

• 作者: 季峰强 范建国 蔡丹华
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 炉管 堆叠式内存 非选择性半球状多晶硅 片数效应
• 年，卷（期）: 2013,（10）
• 页码范围: 44-48
• 页数: 5页
• 分类号: TN304
• 字数: 1717字
• 语种: 中文

摘要

随着动态随机存取存储器(内存)线宽的缩小，需要半球状多晶硅等新技术来增大电容。当前对选择性半球状多晶硅论述较多，非选择性半球状多晶硅则较少提到。文中讲述的是炉管非选择性半球状多晶硅在0.13μm堆叠式内存上的实际应用，侧重于解决片数效应。炉管非选择性半球状多晶硅的下电极阻值具有非常严重的片数效应，电容的下极板电阻从炉管底部向上增高，并随着产品片数的增加而增高，导致上部产品良率偏低，一个制程只能生产一批产品。通过对非选择性半球状多晶硅的制程原理及硬件构造进行分析，发现片数效应是由于籽晶沉积阶段的硅烷流量通常非常小，只有10~15标准毫升，它在硅片上的分布密度会随着产品的增多而沿气流方向减少，沿气流方向的硅片只好通过增加籽晶和迁移步骤的温度来拉起更多的基体硅进入半球体，相应的剩余基体硅就会变薄，这就导致了下电极阻值的增高。文章根据该发现，提出了炉管非选择性半球状多晶硅片数效应的解决方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	范建国		3	1	1.0	1.0
2	季峰强		2	1	1.0	1.0
3	蔡丹华		1	0	0.0	0.0