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摘要:
采用反应射频磁控溅射法制备MgO/Au复合薄膜,并对使用Mg靶和Au靶共溅射、分步溅射方式以及在不同的衬底温度和Ar/O2气体流量比下制备的样品进行X射线光电子能谱、X射线衍射和扫描电子显微镜分析,研究了主要工艺参数对复合薄膜表面成分和形貌的影响.结果表明,采用共溅射方式制备的复合薄膜中Au元素的含量偏高,薄膜表面有团聚生长的Au晶粒,而采用分步溅射法可以使复合薄膜中Au元素的摩尔百分比下降到7.30%.采用分步溅射制备复合薄膜时,较高的衬底温度有助于MgO晶粒的生长,当衬底温度为500℃,通入Ar气和O2气的流量分别为25和5mL/min时,MgO晶粒尺寸达到了30~40 nm;MO薄膜主要呈现出了(111)、(200)和(220)三种结晶取向,较高的Ar/O2气体流量比有利于(200)晶向的形成,而较低的Ar/O2气体流量比有利于(220)晶向的形成.
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文献信息
篇名 MgO/Au复合薄膜的反应射频磁控溅射法制备及表面形貌研究
来源期刊 真空科学与技术学报 学科 物理学
关键词 反应射频磁控溅射 MgO复合薄膜 表面形貌 结晶取向
年,卷(期) 2014,(8) 所属期刊栏目 功能薄膜
研究方向 页码范围 842-846
页数 分类号 O484.1
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-7126.2014.08.13
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 胡文波 西安交通大学电子物理与器件教育部重点实验室 32 92 5.0 7.0
2 吴胜利 西安交通大学电子物理与器件教育部重点实验室 46 216 9.0 12.0
3 魏强 西安交通大学电子物理与器件教育部重点实验室 10 36 4.0 5.0
4 李亨 西安交通大学电子物理与器件教育部重点实验室 1 1 1.0 1.0
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反应射频磁控溅射
MgO复合薄膜
表面形貌
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真空科学与技术学报
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大16开
北京市朝阳区建国路93号万达广场9号楼614室
1981
chi
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