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摘要:
针对板级组件焊点在随机振动下的可靠性问题,对与之相关的实验研究成果和仿真结果进行了综述。首先介绍了球栅阵列(BGA)封装芯片焊点失效的位置,BGA焊点的材料以及BGA参数和印制电路板(PCB)参数对焊点可靠性的分析,并介绍了疲劳寿命预测方法和子模型法、特殊结构的随机振动分析。最后,提出了随机振动情况下的BGA结构的优化方法。
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文献信息
篇名 随机振动下板级组件焊点可靠性研究进展
来源期刊 电子元件与材料 学科 工学
关键词 焊点 随机振动 综述 有限元分析 失效 可靠性 板级组件
年,卷(期) 2015,(11) 所属期刊栏目 综述
研究方向 页码范围 5-10
页数 6页 分类号 TN43
字数 3416字 语种 中文
DOI 10.14106/j.cnki.1001-2028.2015.11.002
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘培生 南通大学江苏省专用集成电路设计重点试验室 35 147 7.0 9.0
2 卢颖 南通大学江苏省专用集成电路设计重点试验室 13 56 4.0 6.0
3 王浩 南通大学江苏省专用集成电路设计重点试验室 6 21 3.0 4.0
4 杨龙龙 南通大学江苏省专用集成电路设计重点试验室 9 42 3.0 6.0
5 刘亚鸿 南通大学江苏省专用集成电路设计重点试验室 7 14 3.0 3.0
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节点文献
焊点
随机振动
综述
有限元分析
失效
可靠性
板级组件
研究起点
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电子元件与材料
月刊
1001-2028
51-1241/TN
大16开
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
62-36
1982
chi
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