存储器测试图形算法概述

• 作者: 杨士宁 石雪梅 罗晶
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: 存储器测试 测试图形 改进的齐步算法
• 年，卷（期）: 2017,（4）
• 所属期刊栏目: 图像处理
• 页码范围: 740-744
• 页数: 5页
• 分类号: TP391
• 字数: 3862字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9722.2017.04.031

摘要

存储器的高集成度化、高速化,为存储器测试带来了极大挑战.论文介绍了存储器测试图形的原理和发展,基于传统的存储器测试图形,综合描述了目前国内外几种较为新颖的且可用于实际工业生产的存储器测试图形改进算法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨士宁		4	6	1.0	2.0
2	石雪梅		5	8	2.0	2.0
3	罗晶		2	1	1.0	1.0