电子产品可靠性与环境试验2004年出版文献-钛学术文献服务平台

文献导航

检索期刊

钛学术文献服务平台 \
学术期刊 \
工业技术期刊 \
null期刊 \
电子产品可靠性与环境试验期刊 >
电子产品可靠性与环境试验2004年出版文献

出版文献量（篇）

2803

总下载数（次）

总被引数（次）

9369

电子产品可靠性与环境试验

投稿

Electronic Product Reliability and Environmental Testing

曾用名：无

影响因子 0.7263

《电子产品可靠性与环境试验》杂志是一份由工业和信息化部主管，工业和信息化部电子第五研究所〈中国赛宝（总部）实验室〉主办，中国电子学会可靠性分会、全国电工电子产品可靠性和维修性标准化委员会协办的可靠性与环境适应性研究专业刊物，1962年创刊，双月刊，国内外公开发行，国际标准连续出版物号：ISSN 1672-5468，国内统一连续出版物号：CN 44-1412/TN。 2. 办刊宗旨广泛宣... 更多

主办单位：

工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)

期刊荣誉：

2001-2002年度信息产业部电子科技期刊“编辑质量奖” 《CAJ-CD规范》执行优秀奖 广东省优秀科技期刊

ISSN：

1672-5468

CN：

44-1412/TN

出版周期：

双月刊

邮编：

511370

地址：

广州市增城区朱村街朱村大道西78号

出版文献量（篇）

2803

总下载数（次）

总被引数（次）

9369

文章浏览

整期发表
优先发表
预发表

热门刊内文献

年度刊次

1. 功率行波管栅控电子枪振动模态特性与结构可靠性

作者：何小琦刘守圭吕向英宋芳芳詹胜发表时间： 2004年1期

页码： 1-5
2. 梳状谐波发生器的失效原因分析

作者：李萍来萍郑延圭发表时间： 2004年1期

页码： 6-9
3. CMOS数字电路抗热载流子研究

作者：庄奕琪李小明杜春艳罗宏伟发表时间： 2004年1期

页码： 10-14
4. 基片焊接不良导致微波功率器件热烧毁

作者：徐爱斌李少平发表时间： 2004年1期

页码： 15-19
5. 双波透射技术在薄芯片无损检测中的应用

作者：吴文章牛付林发表时间： 2004年1期

页码： 20-23
6. 对数正态概率纸的自动生成和分布参数的自动提取

作者：宋军建贾新章高雪莉发表时间： 2004年1期

页码： 24-27
7. 基于信息熵的成功率截尾序贯统计试验方案推导

作者：朱亮林震胡斌发表时间： 2004年1期

页码： 28-30
8. 两个不独立共载并联系统模型的可靠性分析

作者：张涛邹伟郭波高大化发表时间： 2004年1期

页码： 31-35
9. 天然环境气候因子的谐波分析

作者：廖国栋苏少燕发表时间： 2004年1期

页码： 36-38
10. 热敏电阻测量法的研究

作者：林晓玲章晓文黄美浅发表时间： 2004年1期

页码： 39-42
11. 降低复杂PCB测试的成本及测试方案的规划

作者：李志民发表时间： 2004年1期

页码： 43-45
12. VT系列交流电压表常见故障调整及使用注意事项

作者：李芬发表时间： 2004年1期

页码： 46-48
13. Hep-2清洗剂工业用可行性分析报告

作者：张立华詹前贤发表时间： 2004年1期

页码： 49-52
14. PBGA封装的可靠性研究综述

作者：杨建生发表时间： 2004年1期

页码： 53-57
15. 2003年IEEE国际可靠性物理年会论文集论文摘要(1)

作者：发表时间： 2004年1期

页码： 58-62
16. 钝化介质层对功率GaAs MESFET的栅-漏击穿特性影响

作者：费庆宇黄云发表时间： 2004年2期

页码： 1-5
17. 双向电流应力下的金属膜电迁移机理研究

作者：恩云飞章晓文发表时间： 2004年2期

页码： 6-9
18. 高温恒定电场栅氧化层TDDB寿命测试方法研究

作者：李斌王涛罗宏伟发表时间： 2004年2期

页码： 10-13
19. 用扫描声学显微镜进行塑封器件的封装分层分析

作者：古关华发表时间： 2004年2期

页码： 14-16
20. 行波管栅控电子枪的动力学模态分析

作者：何小琦吕向英宋芳芳杨序贵汤凯发表时间： 2004年2期

页码： 17-21
21. 6σ设计水平的评价

作者：王少熙蒲建斌贾新章发表时间： 2004年2期

页码： 22-25
22. 世界首个纳米锂离子电池在宁波问世

作者：发表时间： 2004年2期

页码： 25
23. 求解贮存失效率的条件中位数算法改进

作者：朱亮林震胡斌发表时间： 2004年2期

页码： 26-28
24. 户外型液晶显示器件的紫外光防护

作者：吴永俊詹前贤发表时间： 2004年2期

页码： 29-33
25. 密封元器件的残余气氛分析

作者：吴文章发表时间： 2004年2期

页码： 34-37
26. 可靠性预计中的热电应力分析是电路可靠性设计的关键环节

作者：丁定浩发表时间： 2004年2期

页码： 38-42
27. LCR阻抗标准的研制

作者：代大山谢少锋发表时间： 2004年2期

页码： 43-46
28. 可靠性评估软件在载人航天工程中的应用

作者：潘勇程卓郭爱民发表时间： 2004年2期

页码： 47-50
29. 基于SDH网络传输的视频图像处理方案

作者：左震鲁琴黄芝平发表时间： 2004年2期

页码： 51-54
30. SOC系统设计技术发展与挑战

作者：焦慧芳贾新章发表时间： 2004年2期

页码： 55-59

电子产品可靠性与环境试验基本信息

刊名	电子产品可靠性与环境试验	主编	肖虹
曾用名	无
主办单位	工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)	主管单位	中华人民共和国工业和信息化部
出版周期	双月刊	语种	中文
ISSN	1672-5468	CN	44-1412/TN
邮编	511370	电子邮箱	kkx@ceprei.com
电话	020-87237043	网址
地址	广州市增城区朱村街朱村大道西78号