功率MOS器件SEB、SEGR测量系统的研制

• 作者: 唐本奇 杜凯 王燕萍 耿斌
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 功率MOS器件 辐照效应 电压偏置 电流测量
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 页码范围: 217-219
• 页数: 3页
• 分类号: TL99
• 字数: 1223字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2001.03.016

摘要

研制了功率MOS器件单粒子烧毁、单粒子栅穿辐照效应实验用的电流测量及电源系统,该系统由栅极电源电路、漏极电源电路、漏极RC振荡电路和DUT栅极触发电路组成,具有栅(漏)极电压偏置、电流测量、过流保护、电容电阻选择等功能,经实验验证,本系统工作性能稳定可靠。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜凯		2	2	1.0	1.0