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摘要:
推荐文章
基于TSV技术的CIS芯片晶圆级封装工艺研究
3DIC
CIS
TSV
晶圆级封装工艺流程
化学镀
镍滋生
VLSI圆片级可靠性技术
圆片级可靠性技术
金属化完整性
氧化层完整性
连接完整性
热载流子注入
技术评价:圆片级封装
圆片级封装
凸点
倒装片
先进集成电路制造的圆片级可靠性系统
集成电路
圆片级可靠性
封装可靠性
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 圆片级封装
来源期刊 电子与封装 学科
关键词
年,卷(期) 2002,(3) 所属期刊栏目 封装、组装、测试
研究方向 页码范围 25-27
页数 3页 分类号
字数 4007字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1681-1070.2002.03.008
五维指标
传播情况
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引文网络
引文网络
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2001(1)
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2002(0)
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2017(2)
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
论文1v1指导