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摘要:
圆片级封装( wafer level package,WLP)因其在形状因数、电性能、低成本等方面的优势,近年来发展迅速.概述了WLP技术近几年的主要发展.首先回顾标准WLP结构,并从焊球结构等方面对其进行了可靠性分析.其次介绍了扩散式WLP工艺以及它的典型应用,并说明了扩散式WLP存在的一些可靠性问题.最后总结了WLP技术结合硅通孔技术( TSV)在三维叠层封装中的应用.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 圆片级封装的研究进展
来源期刊 电子元件与材料 学科 工学
关键词 圆片级封装 标准WLP 综述 扩散式WLP 3D叠层封装
年,卷(期) 2012,(1) 所属期刊栏目 综述
研究方向 页码范围 68-72
页数 分类号 TN602
字数 1819字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-2028.2012.01.018
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘培生 南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室 35 147 7.0 9.0
5 黄金鑫 南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室 8 63 4.0 7.0
6 仝良玉 南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室 7 52 5.0 7.0
7 沈海军 5 44 4.0 5.0
8 施建根 3 53 3.0 3.0
9 朱海清 1 10 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
圆片级封装
标准WLP
综述
扩散式WLP
3D叠层封装
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
月刊
1001-2028
51-1241/TN
大16开
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
62-36
1982
chi
出版文献量(篇)
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31758
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