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VLSI芯片-数字信号测试
VLSI芯片-数字信号测试
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摘要：
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基于边界扫描技术的VLSI芯片互连电路测试研究
边界扫描
互连电路测试
超大规模集成电路
磁通门信号的数字信号处理方法
磁通门
数字信号处理
数字信号波形“门”处理
数字带通滤波
基于数字信号处理的脉冲编码器
兵器遥测
遥测编码器
数字信号处理(DSP)
脉冲(PCM)编码
基于故障字典的数字芯片测试系统
故障字典
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数字芯片
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期刊影响力
半导体技术
主办单位：
中国电子科技集团公司第十三研究所
出版周期：
月刊
ISSN：
1003-353X
CN：
13-1109/TN
开本：
大16开
出版地：
石家庄179信箱46分箱
邮发代号：
18-65
创刊时间：
1976
语种：
chi
出版文献量（篇）
5044
总下载数（次）
38
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