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基于Quartet测试系统的高速DAC芯片测试
基于Quartet测试系统的高速DAC芯片测试
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摘要：
介绍了通用DAC芯片的主要测量参数及其测试方法.并以12-bit高速DAC芯片ISL5861为例,利用Credence公司的数模混合信号测试系统Quartet实现对高速数模转换芯片进行测试.
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研究主题发展历程
节点文献
高速数模转换器芯片
任意波型产生器/模拟捕捉器
数模混合信号芯片测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
主办单位：
中国电子科技集团公司第四十五研究所
出版周期：
双月刊
ISSN：
1004-4507
CN：
62-1077/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
邮发代号：
创刊时间：
1971
语种：
chi
出版文献量（篇）
3731
总下载数（次）
31
总被引数（次）
10002
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