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一次性烧成晶界层半导体陶瓷电容器
一次性烧成晶界层半导体陶瓷电容器
作者:
李言
李静
王守士
王艳
章仲涛
章士瀛
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
电子技术
晶界层半导体陶瓷电容器
一次性烧成
联体炉
摘要:
采用一次性烧成技术研制了晶界层半导体陶瓷电容器,在瓷料配制过程中先后加入施主杂质和含有受主杂质的晶界助烧剂,两者在还原烧成时促使晶粒生长并半导化,助烧剂在氧化时有利于晶界绝缘层形成.在一台联体烧成设备中,采用大梯度温度和气氛变化,连续完成还原烧成和氧化处理.还原烧成时,升温速度大于400℃/h.在还原烧成温度下保温后,立即在几分钟内,从还原气氛转到氧化气氛,同时降温300℃以上.整个烧成过程中,瓷体全部是堆烧(叠烧10~20层),生产效率比二次烧成提高10倍以上.
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文献信息
篇名
一次性烧成晶界层半导体陶瓷电容器
来源期刊
电子元件与材料
学科
工学
关键词
电子技术
晶界层半导体陶瓷电容器
一次性烧成
联体炉
年,卷(期)
2005,(5)
所属期刊栏目
研究与试制
研究方向
页码范围
43-45,48
页数
4页
分类号
TM534+.1
字数
2932字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1001-2028.2005.05.014
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
李静
2
5
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2.0
2
章士瀛
7
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3.0
3.0
3
王守士
4
6
1.0
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李言
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5
章仲涛
1
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王艳
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传播情况
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引文网络
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共引文献
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参考文献
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节点文献
引证文献
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同被引文献
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参考文献(0)
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二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
电子技术
晶界层半导体陶瓷电容器
一次性烧成
联体炉
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
主办单位:
中国电子学会
中国电子元件行业协会
国营第715厂(成都宏明电子股份有限公司)
出版周期:
月刊
ISSN:
1001-2028
CN:
51-1241/TN
开本:
大16开
出版地:
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
邮发代号:
62-36
创刊时间:
1982
语种:
chi
出版文献量(篇)
5158
总下载数(次)
16
总被引数(次)
31758
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