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摘要:
采用一次性烧成技术研制了晶界层半导体陶瓷电容器,在瓷料配制过程中先后加入施主杂质和含有受主杂质的晶界助烧剂,两者在还原烧成时促使晶粒生长并半导化,助烧剂在氧化时有利于晶界绝缘层形成.在一台联体烧成设备中,采用大梯度温度和气氛变化,连续完成还原烧成和氧化处理.还原烧成时,升温速度大于400℃/h.在还原烧成温度下保温后,立即在几分钟内,从还原气氛转到氧化气氛,同时降温300℃以上.整个烧成过程中,瓷体全部是堆烧(叠烧10~20层),生产效率比二次烧成提高10倍以上.
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文献信息
篇名 一次性烧成晶界层半导体陶瓷电容器
来源期刊 电子元件与材料 学科 工学
关键词 电子技术 晶界层半导体陶瓷电容器 一次性烧成 联体炉
年,卷(期) 2005,(5) 所属期刊栏目 研究与试制
研究方向 页码范围 43-45,48
页数 4页 分类号 TM534+.1
字数 2932字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-2028.2005.05.014
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李静 2 5 1.0 2.0
2 章士瀛 7 12 3.0 3.0
3 王守士 4 6 1.0 2.0
4 李言 3 6 1.0 2.0
5 章仲涛 1 5 1.0 1.0
6 王艳 5 6 1.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
电子技术
晶界层半导体陶瓷电容器
一次性烧成
联体炉
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
月刊
1001-2028
51-1241/TN
大16开
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
62-36
1982
chi
出版文献量(篇)
5158
总下载数(次)
16
总被引数(次)
31758
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