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摘要:
本文采用双离子束溅射沉积法制备了SiOxNy复合薄膜,XRD、TEM测试表明薄膜呈非晶态,FTIR及XPS测试表明薄膜成分由Si、O、N组成,在室温下可观察到样品有400 nm(紫光)、470 nm(蓝光)的光致发光.根据测试分析研究了SiOxNy薄膜的可能的发光机理:470 nm处发光峰为来自于硅基薄膜中中性氧空位缺陷(O3≡Si-Si≡O3),是由于氧原子配位的二价硅的单态-单态之间的跃迁所致,其发光强度随退火温度的升高而变化,800℃时最大,高于800℃时慢慢减弱;400 nm发光峰的发射与薄膜中的Si、O、N所形成的结构有关,它可能来自于Si、O、N结构所形成的发光中心,该峰位的强度随退火温度的升高而增强.
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文献信息
篇名 双离子束溅射法制备SiOxNy薄膜的结构与发光
来源期刊 真空科学与技术学报 学科 工学
关键词 双离子束测射 SiOxNy薄膜 结构与发光
年,卷(期) 2006,(1) 所属期刊栏目 技术交流
研究方向 页码范围 57-60
页数 4页 分类号 TN304.055
字数 2858字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-7126.2006.01.015
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘义保 东华理工学院物理系 80 338 10.0 15.0
2 吴雪梅 苏州大学物理科学与技术学院 72 331 9.0 13.0
3 诸葛兰剑 苏州大学物理科学与技术学院 59 199 8.0 11.0
4 李群 东华理工学院物理系 13 16 2.0 3.0
5 黎定国 东华理工学院物理系 12 66 3.0 8.0
6 邓玲娜 东华理工学院物理系 12 58 3.0 7.0
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研究主题发展历程
节点文献
双离子束测射
SiOxNy薄膜
结构与发光
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研究分支
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1672-7126
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