脉冲法电沉积SnS:Ag薄膜

• 作者: 杨永丽 程树英
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 脉冲电沉积 SnS Ag薄膜 光电性能
• 年，卷（期）: 2008,（12）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 2322-2325
• 页数: 4页
• 分类号: TN304
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2008.12.007

摘要

用脉冲电沉积技术,在ITO玻璃基片上制备了SnS:Ag薄膜.用X射线衍射(XRD)和原子力显微镜(AFM)观察了薄膜的物相结构和表面形貌,结果表明SnS:Ag薄膜出现了新物相Ag6SnS6,结晶度好,颗粒度大.用光电流测试研究了其导电性能,表明SnS:Ag薄膜是p型半导体材料.霍尔测量表明掺杂后载流子浓度增大,电阻率降低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程树英	福州大学食品安全分析与检测教育部重点实验室	96	443	11.0	17.0
5	杨永丽	福州大学食品安全分析与检测教育部重点实验室	1	1	1.0	1.0