基于SCR的全芯片ESD保护设计

• 作者: 刘勇 李冰 杨袁渊
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: ESD SCR ESD总线 全芯片
• 年，卷（期）: 2009,（10）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 18-21,29
• 页数: 5页
• 分类号: TN402
• 字数: 1188字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2009.10.005

摘要

随着集成电路特征尺寸的减小,集成电路对ESD的要求越来越高,同时集成电路面积和引脚数量的增加,使得全芯片的ESD保护成为挑战.SCR器件相对于其他器件,具有相同面积下最高的ESD保护性能.文章以SCR保护器件为基础,介绍一种新型的ESD保护架构--ESD总线.从全模式和混合电压芯片的ESD保护出发,进而提出了全芯片ESD保护结构,针对现代集成电路芯片引脚不断增多的特点,以及系统集成带来的多电压模式问题,提出了使用ESD总线结构的保护方案来实现全芯片的ESD保护.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘勇	东南大学集成电路学院	34	252	10.0	14.0
2	李冰	东南大学集成电路学院	43	126	6.0	8.0
3	杨袁渊	东南大学集成电路学院	1	1	1.0	1.0