集成电路测试系统的加流测压及加压测流设计

• 作者: 伍广钟 崔华醒 谭永良
• 来源期刊: 电子工业专用设备
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路测试 电压电流源 加压测流 加流测压 箝位
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 45-47,51
• 分类号: TN407
• 字数: 2075字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4507.2010.09.009

摘要

在集成电路的测试中,通常需要给所测试的集成电路提供稳定的电压或电流,以作测试信号,同时还要对信号进行测量,这就需要用到电压电流源;测试系统能作为测试设备的电压电流源,实现加压测流和加流测压功能.且具有箝位功能,防止负载电压或电流过大而损坏系统.应用结果表明,该检测系统运行稳定可靠,测量精度高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谭永良		3	8	2.0	2.0
2	伍广钟		2	6	2.0	2.0
3	崔华醒		2	6	2.0	2.0