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摘要:
集成电路测试系统对测试精度、测试速度、测试功能等方面提出了越来越高的要求,测试系统并行测试和乒乓测试结合可以更好地利用现有的硬件资源,最大限度地提高系统的测试效率,降低测试成本。针对CTA8280测试系统结构、关键技术、应用案例进行分析介绍。
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文献信息
篇名 CTA8280集成电路测试系统的研究应用
来源期刊 电子工业专用设备 学科 工学
关键词 集成电路 测试系统 测试精度 并行测试 乒乓测试
年,卷(期) 2014,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 48-51
页数 4页 分类号 TN948.43
字数 2768字 语种 中文
DOI
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作者信息
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1 钟锋浩 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
集成电路
测试系统
测试精度
并行测试
乒乓测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
出版文献量(篇)
3731
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