RF芯片测试技术研究

• 作者: 余琨
• 来源期刊: 中国集成电路
• 学科: 工学
• 关键词: RF芯片 测试技术 半导体自动测试设备 增益 相位噪声
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 设计
• 页码范围: 41-46,55
• 页数: 7页
• 分类号: TN407
• 字数: 3577字
• 语种: 中文

摘要

本论文主要介绍了当前RF芯片及其测试挑战,讲述了应用于无线通信系统和高数据速率交换装置芯片的测试环境开发,研究了RF芯片测试关键技术,包括测试软件开发技术及测试硬件设计技术.然后介绍了如何利用半导体自动测试设备(ATE)对RF芯片关键参数进行测试,实现RF芯片自动测试方法的创新.通过本论文的研究,可以为RF芯片提供相应的测试解决方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余琨		3	5	2.0	2.0