集成电路测试产品的UPH提升浅析

• 作者: 李习周 李琦 杨文杰 郭昌宏
• 来源期刊: 电子工业专用设备
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 测试 每小时产量
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 测试测量技术与设备
• 页码范围: 48-51
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2585字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4507.2018.01.012

摘要

集成电路测试是保证集成电路性能和质量的关键手段之一.从控制测试时间、现场管理的改进和测试程序持续优化等方面详细阐述了提高集成电路测试UPH的途径,通过采取这些措施,可以有效提升测试产品的UPH,为集成电路测试行业提供了一定的启示.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李习周		22	27	3.0	4.0
2	杨文杰		3	7	1.0	2.0
3	郭昌宏		10	7	2.0	2.0
4	李琦		6	2	1.0	1.0