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导电胶的研究进展
导电胶的研究进展
作者:
倪晓军
梁彤翔
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
电子封装
导电胶
导电机理
老化性能
摘要:
导电胶作为无铅连接材料的一种,近年来在电子封装中得到越来越多的重视。导电机理、组成及老化性能的研究成为导电胶实用化的关键因素。各向异性导电胶是连接用Pb/Sn合金的理想替代材料。电子封装;导电胶;导电机理;老化性能
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研究进展
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导电胶
固化收缩
导电机理
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基于导电性能退化数据的导电胶可靠性评估
导电胶
性能退化
线性回归
可靠性评估
内容分析
文献信息
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相关学者/机构
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内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
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文献信息
篇名
导电胶的研究进展
来源期刊
电子元件与材料
学科
工学
关键词
电子封装
导电胶
导电机理
老化性能
年,卷(期)
2002,(1)
所属期刊栏目
研究与试制
研究方向
页码范围
1-3,7
页数
4页
分类号
TM24
字数
3745字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1001-2028.2002.01.001
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
倪晓军
清华大学核能技术设计研究院新材料研究室
20
109
5.0
10.0
2
梁彤翔
清华大学核能技术设计研究院新材料研究室
9
50
5.0
7.0
传播情况
被引次数趋势
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引文网络
引文网络
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节点文献
电子封装
导电胶
导电机理
老化性能
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
主办单位:
中国电子学会
中国电子元件行业协会
国营第715厂(成都宏明电子股份有限公司)
出版周期:
月刊
ISSN:
1001-2028
CN:
51-1241/TN
开本:
大16开
出版地:
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
邮发代号:
62-36
创刊时间:
1982
语种:
chi
出版文献量(篇)
5158
总下载数(次)
16
总被引数(次)
31758
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