降低半导体器件失效率的有效措施

• 作者: 金阳 金雷
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体器件 失效率 有效措施
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 28-29,32
• 页数: 3页
• 分类号: TN606
• 字数: 698字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2002.03.012

摘要

要提高电子产品的可靠性水平,必须加强对元器件的质量管理.本文系统地介绍了采用优选生产厂家、高温贮存、功率老化、质量信息反馈、改善检测手段等方法来降低半导体器件的失效率,提高整机的可靠性.实践证明,这些措施简单有效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	金雷		3	3	1.0	1.0
2	金阳	安徽省铜陵市三佳集团公司研究所	1	2	1.0	1.0