半导体器件并联系统可靠性评估的经验Bayes方法

• 作者: 师义民 师小琳 段哲民
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 数学
• 关键词: 半导体器件并联系统 可靠性评估 经验Bayes方法
• 年，卷（期）: 2004,（7）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 48-50
• 页数: 3页
• 分类号: O213.2
• 字数: 2044字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2004.07.017

摘要

为了提高机载开关电源中半导体器件并联系统可靠性评估的准确性,运用经验Bayes法和经典的统计方法,研究了该系统的可靠性评估问题.分别给出了系统可靠性指标的经验Bayes估计,极大似然估计.利用Monte-Carlo方法,对两种估计结果进行了比较,结果表明,经验Bayes估计的最大绝对误差为0.07,它小于极大似然估计的最大绝对误差0.368.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	段哲民	西北工业大学电子工程系	131	829	14.0	19.0
2	师义民	西北工业大学应用数学系	175	1114	18.0	21.0
3	师小琳	西北工业大学电子工程系	6	22	3.0	4.0