导致MLCC失效的常见微观机理

• 作者: 包生祥 彭晶 李世岚 马丽丽
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 电子技术 MLCC 失效分析 内在因素 微观机理
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 58-61
• 页数: 4页
• 分类号: TM53
• 字数: 3549字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2007.05.019

摘要

多层陶瓷电容器(MLCC)在实际使用过程中,电参数会发生不同程度的偏离,降低了可靠性,直到MLCC失效.其失效原因可分为外部因素和内在因素,分析讨论了影响MLCC可靠性的内在因素--MLCC内部分层、导电粒子、金属离子迁移和介电老化等常见微观失效机理,并提出了主要应对措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	包生祥	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	52	181	7.0	10.0
2	马丽丽	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	18	62	4.0	7.0
3	李世岚	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	6	28	2.0	5.0
4	彭晶	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	10	42	3.0	6.0