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摘要:
多层陶瓷电容器(MLCC)在实际使用过程中,电参数会发生不同程度的偏离,降低了可靠性,直到MLCC失效.其失效原因可分为外部因素和内在因素,分析讨论了影响MLCC可靠性的内在因素--MLCC内部分层、导电粒子、金属离子迁移和介电老化等常见微观失效机理,并提出了主要应对措施.
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文献信息
篇名 导致MLCC失效的常见微观机理
来源期刊 电子元件与材料 学科 工学
关键词 电子技术 MLCC 失效分析 内在因素 微观机理
年,卷(期) 2007,(5) 所属期刊栏目 可靠性
研究方向 页码范围 58-61
页数 4页 分类号 TM53
字数 3549字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-2028.2007.05.019
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 包生祥 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 52 181 7.0 10.0
2 马丽丽 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 18 62 4.0 7.0
3 李世岚 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 6 28 2.0 5.0
4 彭晶 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 10 42 3.0 6.0
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电子技术
MLCC
失效分析
内在因素
微观机理
研究起点
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相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
月刊
1001-2028
51-1241/TN
大16开
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
62-36
1982
chi
出版文献量(篇)
5158
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